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透射電鏡全角度三維重構樣品桿在搭載直徑3 mm銅網的傳統(tǒng)三維重構樣品臺的基礎上延伸，采用彈頭的單軸旋轉方式進行繞樣品臺全角度360°觀察，可以接受棒狀或圓錐形樣品。
掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，在原位樣品臺內構建熱場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結合EDS、EBSD等多種不同模式，實現從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度變化產生的微觀結構、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。
透射電鏡高溫力學原位系統(tǒng)通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、熱復合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。
掃描電鏡高溫力學原位系統(tǒng)通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、熱復合多場自動控制及反 饋測量系統(tǒng)，結合EDS、EBSD等多種不同模式，實現從納米層面實 時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、施加力變化產生的微觀結構 演化、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等 關鍵信息。
透射電鏡氣體高溫原位系統(tǒng)通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在氣體環(huán)境下隨溫度變化產生的微觀結構演化、反應動力學、相變、元素價態(tài)、化學變化、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。
掃描電鏡電制冷版冷凍系統(tǒng)是在標準樣品臺的基礎上設計冷凍模塊、PID溫控模塊及冷卻循環(huán)模塊，無需改造電鏡，在掃描電鏡內實現對樣品冷凍，大大減緩了樣品水分的蒸發(fā)，使長時間在電鏡中觀察含水樣品的結構成為可能。通過外接法蘭裝置實現對冷臺上的樣品進行數顯控溫，穩(wěn)定后溫度波動小于±0.1℃。
